銷(xiāo)售日本OMRON形狀測(cè)量傳感器，Y92B-A250

    銷(xiāo)售日本OMRON形狀測(cè)量傳感器，Y92B-A250
    從寬度、高度、傾斜度、高低差、假面面積等共20種測(cè)量項(xiàng)目中針對(duì)性地組合選擇。
    而配置高高斯透鏡探頭的ZG2-WDS3VT課解決該問(wèn)題。
    作為改進(jìn)課題之的測(cè)量速度已得到提高，因此即便是在高速線上也能使用本產(chǎn)品。
    可在zui大±5°傾斜范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定測(cè)量。使用與檢測(cè)鏡頭與玻璃板等的組裝。
    傾斜的透明物體、反光面
    這些檢測(cè)對(duì)象的位置不同，其激光反射量、反射監(jiān)督也存在差異，
    同時(shí)存在黑色和金屬面的檢測(cè)物體。圓柱形和形狀復(fù)雜的物體。
    檢測(cè)鏡頭頂點(diǎn)與競(jìng)價(jià)的高低差，檢查組裝結(jié)果是否正確。
    “設(shè)置補(bǔ)償功能”可自動(dòng)將傳感器探頭與測(cè)量對(duì)象調(diào)整到同水平位置。
    ※ZG2-WDC□1A型傳感器控制器的標(biāo)準(zhǔn)配置
    根據(jù)實(shí)際用途，歐姆龍將為用戶提供適合的連接方案實(shí)現(xiàn)*測(cè)量。
    此外，段曝光時(shí)間下也可進(jìn)行測(cè)量，從而對(duì)應(yīng)移動(dòng)物體的檢測(cè)。
    更簡(jiǎn)單，更高精度的形狀測(cè)量。
    較暗涂層面和黑色橡膠等難以反射光線，
    通過(guò)檢測(cè)基板與封裝面的高低差，完成零件的組裝檢測(cè)。
    ※詳情請(qǐng)參閱APS功能（P9）、新光學(xué)系統(tǒng)ONPS（P8）。
    可從輪廓圖形中zui多任意選取8點(diǎn)，進(jìn)行同步測(cè)試，因此能夠組合所需檢測(cè)項(xiàng)目。
    銷(xiāo)售日本OMRON形狀測(cè)量傳感器，Y92B-A250
    可根據(jù)周?chē)彰鳝h(huán)境自動(dòng)調(diào)節(jié)感光靈敏度和背景消除水平等參數(shù)，
    解決上述問(wèn)題中頗受好評(píng)，且該功能變得更為。
    *傾斜較大時(shí)，有可能產(chǎn)生測(cè)量誤差。使用本產(chǎn)品前煩請(qǐng)確認(rèn)實(shí)際使用環(huán)境中的測(cè)量精度。
    “彎曲點(diǎn)”的測(cè)量功能。可測(cè)量物體上特征性的高低差和寬度。
    具有測(cè)量物體上兩條直線“交點(diǎn)坐標(biāo)”、“夾角”的功能。可效使用于對(duì)焊接物體進(jìn)行焊接火焰模擬控制。
    如果稍有傾斜，光反射量就會(huì)驟減，導(dǎo)致測(cè)量變得不穩(wěn)定。
    消除設(shè)置時(shí)基準(zhǔn)面與探頭間產(chǎn)生的傾斜偏差，大幅度縮短設(shè)置探頭時(shí)調(diào)整時(shí)間。
    穩(wěn)定測(cè)量難以檢測(cè)的顏色、材質(zhì)與復(fù)雜形狀
    具有了將測(cè)量對(duì)象存在角度變化的部分識(shí)別為
    因此很難清晰且穩(wěn)定地再現(xiàn)輪廓。歐姆龍*“多靈敏度感應(yīng)功能”
    ※詳情請(qǐng)參閱高高斯透鏡（P8）
    因此以往的激光測(cè)量床干起難以測(cè)量此類(lèi)物體。
    簡(jiǎn)化設(shè)置傳感器探頭時(shí)的調(diào)整工序
    可穩(wěn)定測(cè)量CCD及CMOS、水晶振動(dòng)元件的水晶片等的玻璃及表面反光零件。
    輕松且準(zhǔn)確地再現(xiàn)形狀輪廓。實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。
    通過(guò)連接2臺(tái)控制器，并使用2臺(tái)傳感器探頭同時(shí)進(jìn)行測(cè)量，
    而ZG2具有超高靈敏度，能*減輕外部光線的干擾，
    安裝簡(jiǎn)便。只需要安裝傳感器探頭與控制器，即可投入使用。
    從而舉解決該難題。配備的APS功能，
    可zui大將測(cè)量范圍擴(kuò)大到140MM，如果采用多臺(tái)連接測(cè)量方式，
    傾斜對(duì)應(yīng)范圍比此前型號(hào)擴(kuò)大2.5倍，
    其顏色、材質(zhì)使傳感器探頭受光量不足，易受到外部光線的干擾，
    對(duì)于反光面和透明物體等正反射較強(qiáng)的測(cè)量對(duì)象，